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博勒飛CTX質(zhì)構(gòu)儀在粉餅物性測(cè)試中的應(yīng)用

作者: 上海倍迎 編輯: Ametek 來源: Brookfield 發(fā)布日期: 23-04-10
信息摘要:
博勒飛CTX質(zhì)構(gòu)儀在粉餅物性測(cè)試中的應(yīng)用面部粉餅是壓縮粉餅。質(zhì)地結(jié)構(gòu)、色調(diào)和香味是爽膚粉的三個(gè)關(guān)鍵特 ...

博勒飛CTX質(zhì)構(gòu)儀在粉餅物性測(cè)試中的應(yīng)用

面部粉餅是壓縮粉餅。質(zhì)地結(jié)構(gòu)、色調(diào)和香味是爽膚粉的三個(gè)關(guān)鍵特征,對(duì)制造商來說很重要,對(duì)消費(fèi)者來說也是明顯的特征。


按體積計(jì)算,壓縮粉餅的基本成分是滑石粉,一種天然的含水硅酸鎂,占粉末總量的70%或更多?;凼狗埏炄彳浨乙子谑褂?,表現(xiàn)出絲滑的使用體驗(yàn)。粘合劑和其他原料的添加,可以有效防止粉餅在運(yùn)輸和使用過程中發(fā)生破碎、開裂的情況,且具有除塵作用,為壓縮粉餅提供多樣的顏色、氣味,并保持良好的穩(wěn)定性。
通過質(zhì)構(gòu)分析,可以保證產(chǎn)品質(zhì)量的穩(wěn)定性和一致性。因此,原料的選擇和它們各自的比重是重要的,并將影響粉餅的硬度。
CTX質(zhì)構(gòu)儀可以通過2毫米圓柱形探頭的穿刺測(cè)試評(píng)價(jià)壓縮粉餅的硬度或“強(qiáng)度”。



粉餅測(cè)試所用設(shè)備

儀器:CTX(5Kg負(fù)載單元)

附件:2 mm Cylinder Probe (TA-39)

軟件:Texture Pro軟件


image

CTX參數(shù)設(shè)置

測(cè)試類型:Compression壓縮

測(cè)前速度:0.5 mm/s

測(cè)試速度:1.0 mm/s

測(cè)后速度:4.5 mm/s

目標(biāo)類型:Distance

目標(biāo)距離:2 mm

觸發(fā)負(fù)載:5 g


注意:為了準(zhǔn)確觸發(fā)測(cè)試,建議預(yù)測(cè)試速度小于或等于測(cè)試速度。穿透距離可以修改,但是,所選擇的目標(biāo)距離應(yīng)使探頭不接觸容器的底部。否則,儀器將過載,結(jié)果可能會(huì)有變化。

CTX測(cè)試結(jié)果


如下是一個(gè)典型的CTX質(zhì)構(gòu)儀測(cè)試譜圖,顯示了面餅的硬度,脆性等指標(biāo)。

image

圖1:粉餅穿刺測(cè)試曲線圖(負(fù)載/時(shí)間)



CTX結(jié)果分析


硬度:測(cè)試過程中峰值最大力值;

斷裂衰減:代表產(chǎn)品脆性的層次性,衰減越大說明脆性的層次感越弱;

斷裂性:產(chǎn)品發(fā)生第一次斷裂的力值,力值越大說明越不容易斷裂。

測(cè)試結(jié)果如下:

image

通過圖1可知,當(dāng)探頭向下運(yùn)行直至達(dá)到粉餅表面的破裂點(diǎn)之前,應(yīng)力一直處于上升的趨勢(shì);到達(dá)破裂點(diǎn)時(shí),圖中顯示應(yīng)力峰值;穿透表面后,測(cè)量的力值穩(wěn)步增加,直到測(cè)量到第二個(gè)峰值,峰值越大,說明粉末的致密程度越高。 


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